HAST高压加速老化试验箱和PCT高压加速老化试验箱的区别

​在电子封装、半导体和电路板等可靠性测试中，HAST（Highly Accelerated Stress Test）与PCT（Pressure Cooker Test）是两类常用的高压加速老化试验箱。虽然都在高温、高湿、高压环境下加速老化，但二者在原理、工况、测试速度和适用范围上存在显著差异。

1. 工作原理
PCT 属于饱和型试验箱，内部温度、湿度和压力同步升降，湿度始终保持 100% RH，形成饱和蒸汽环境，主要用于评估产品在极端密封条件下的耐腐蚀性。而 HAST 为非饱和型，温度、湿度（70%~100% RH）和压力均可独立调节，能够实现高温、高湿、高压或高低温循环等多种工况，测试更为灵活。

2. 工况参数
PCT 的典型温度范围在 110 ℃~130 ℃，压力约 2 atm，湿度接近 100% RH。HAST 的温度上限可达 150 ℃ 以上，压力相对较低（0.5~2 kg/cm²），湿度可在 85%~100% RH 之间调节。因此 HAST 能在更宽的温湿度区间内模拟不同使用环境。

3. 测试速度与周期
由于 PCT 条件相对温和，老化过程需要数百至数千小时才能显现失效模式。HAST 采用更严苛的应力组合，能够在几十至几百小时内快速暴露潜在缺陷，显著缩短测试周期。

4. 适用范围
PCT 主要用于检测产品的密封性能和耐湿热性能，常见于电子元件、PCB、半导体封装等需要验证防潮防压的场景。HAST 则因其工况可调、测试模式多样，被称为“全能型”老化设备，除上述领域外，还广泛用于高可靠性电子系统、磁性材料、光伏组件等更广泛的可靠性评估。

5. 设备结构与安全
PCT 采用圆形压力容器和饱和蒸汽设计，配备超温、超压、缺水等多重安全保护。HAST 在控制系统上更为先进，具备触摸屏、数据导出、二段式压力保护等功能，能够实现长时间稳定运行并提供更细致的实验记录。

综上所述，PCT 与 HAST 在试验原理、工况参数、加速程度、应用领域以及设备特性上各有侧重。选型时应根据被测产品的可靠性需求、测试时间要求以及预算等因素综合考虑，确保选用的试验箱能够最有效地揭示产品在实际使用环境中的潜在失效机制。