HAST非饱和高压加速老化试验箱 高压加速老化试验箱 hast高压加速老化试验箱 hast高温高压加速老化试验箱

　　

HAST（Highly Accelerated Stress Test）非饱和高压加速老化试验箱是一种专为电子器件、半导体封装、磁性材料等高可靠性产品设计的环境模拟设备。它通过在密闭箱体内同步施加高温、高湿和高压等极端条件，使样品在短时间内经历相当于数千甚至上万小时的实际使用环境，从而快速评估其密封性、耐压性和寿命可靠性。

工作原理基于阿伦尼乌斯模型：提升环境应力（温度、湿度、压力）可指数级加速材料的化学和物理老化过程。箱体内部设有独立的蒸汽发生室和加热回路，避免蒸汽直接冲击样品，保证温湿度分布均匀；双阀结构的进口电磁阀提升可靠性并降低故障率。此外，箱体配备电子门锁、滑动托盘和多路安全保护（过温、过压、泄压阀等），确保操作安全且易于维护。
主要技术参数包括：温度范围105 ℃–147 ℃，温度波动≤±0.5 ℃；湿度范围65%–100%RH，波动≤±2.5%RH；压力范围0.2–2 kg/cm²；升温时间约50 min，升压时间约40 min，支持连续或循环测试模式。设备符合JESD22‑A102E、IEC60068‑2‑66等国际标准，能够满足半导体、光伏、汽车电子、军工等行业的可靠性验证需求。